晶圓高低溫接觸式測試儀設(shè)備的說明
0整片晶圓可靠性循環(huán)測試用于驗證晶圓鍵合、薄膜、介質(zhì)層抗熱疲勞性能,區(qū)別于單顆封裝芯片測試,要求設(shè)備載臺尺寸大、全域溫度均勻、導熱效率高。
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整片晶圓可靠性循環(huán)測試用于驗證晶圓鍵合、薄膜、介質(zhì)層抗熱疲勞性能,區(qū)別于單顆封裝芯片測試,要求設(shè)備載臺尺寸大、全域溫度均勻、導熱效率高。
查看全文±0.2℃穩(wěn)態(tài)溫度是接觸式芯片測試機核心指標,設(shè)備依靠分層 PID 算法、高導熱載臺、Plunger 雙路測溫、冷熱同步調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)協(xié)同實現(xiàn)長期溫度穩(wěn)定輸出,可消除負載波動、環(huán)境溫變帶來的溫度偏移,適配芯片精密電學測試、失效分析等對溫度一致性要求高的工序。
查看全文SUNDI-4A25與SUNDI-4A38可用于反應(yīng)釜動態(tài)控溫、導熱介質(zhì)循環(huán)控溫、醫(yī)藥化工溫控和精細化工溫度控制場景。針對250L和500L反應(yīng)釜、使用溫度范圍-30℃至200℃的項目,用戶通常關(guān)注設(shè)備功耗、尺寸、重量、風冷水冷選擇和升降溫速度。根據(jù)現(xiàn)有項目資料,SUNDI-4A25功耗約42k...
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